Как тост мой SSD и почему?

Question

Стал ли Solid State Disk Super Slim Doorstopper?

Я знаю, что это длинный вопрос, но я постарался сделать его максимально подробным и информативным. Для tl;dr просто пропустите первую половину вопроса, хотя я думаю, что информация там может иметь отношение к проблеме.

Что случилось

Прежде всего: я живу в районе, который сейчас страдает от сильной жары. Температура воздуха в моей комнате никогда не была ниже 30 ° C в течение 2-3 недель. С тех пор дни никогда не опускались ниже 34 ° C, даже среди ночи. У меня нет кондиционера, и мой вентилятор практически ничего не делает. Темп моего SSD датчик кажется сломанным (всегда сообщает о 5 ° C), мои жесткие диски были при 48 ° C, 54 ° C и 54 ° C почти всегда. GPU около 60 ° C и процессор около 52 ° C. Это не хорошо, но все еще звучит терпимо для меня.

Прошлой ночью я использовал свой ПК, arch linux на 64 ГБ SSD, когда все зависло. Я не мог даже SSH в машину больше. Поэтому, подождав полчаса в надежде получить хотя бы SSH-соединение, мне пришлось отключить питание. Я также хотел бы отметить, что иногда мой компьютер стал очень медленным, когда я использую Audacity (записывает временные данные на SSD, поскольку Audacity, похоже, не поддерживает файловые системы NTFS, а мой SSD - единственная файловая система, отличная от NTFS), и что в последнее время Я столкнулся с этим вопросом, говоря о том, что SSD становятся медленнее, когда они заполняются. Я могу сказать, что мой SSD использует 95% используемого пространства несколько раз в неделю, если не ежедневно, из-за большого количества записей смелости.

Поэтому после выключения ПК я попытался включить его снова, на экране BIOS он прошел через все диски и SSD сказал S.M.A.R.T. error . После запуска grub (на другом диске) и попытки загрузиться в arch (загрузочный раздел также на другом диске) я получил сообщение Device /dev/mapper/mydisk-root not found или что-то подобное. mydisk-root должен быть корневым разделом в группе томов моего SSD с шифрованием LUKS. Поэтому я несколько раз пытался перезагрузиться, но всегда получал один и тот же результат, когда в конце концов сдался, выключил компьютер (на блоке питания) и пошел спать.

Следующие действия, которые я выполнил

После того, как я проснулся, я захотел загрузить live linux USB для сканирования SMART, посмотреть на dmesg, что бы там ни было. Внезапно BIOS сказал S.M.A.R.T. ok снова. Я продолжал работать с живым USB, хотя я смог разблокировать и смонтировать SSD, как обычно. Я смог выполнить полное резервное копирование без каких-либо проблем.

Затем я пошел, чтобы пройти тест SMART. long тест не удался дважды на 50%, подробности ниже. short тест завершен, и я не вижу ничего плохого в результатах. Последний тест SMART, который я прошел, был всего 2 недели назад, это был long тест (см. Журнал испытаний), и все было хорошо.

Вопрос 1: Как тост мой SSD?

Это вывод таблицы атрибутов SMART before я попробовал какие-либо тесты, поэтому я думаю, что это должны быть результаты long теста, который я провел еще две недели назад:

SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
  1 Raw_Read_Error_Rate     0x002f   100   100   050    Pre-fail  Always       -       0
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0033   100   100   010    Pre-fail  Always       -       0
  9 Power_On_Hours          0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       23891
 12 Power_Cycle_Count       0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       1063
170 Grown_Failing_Block_Ct  0x0033   100   100   010    Pre-fail  Always       -       0
171 Program_Fail_Count      0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       10
172 Erase_Fail_Count        0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       0
173 Wear_Leveling_Count     0x0033   080   080   010    Pre-fail  Always       -       611
174 Unexpect_Power_Loss_Ct  0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       244
181 Non4k_Aligned_Access    0x0022   100   100   001    Old_age   Always       -       302 89 212
183 SATA_Iface_Downshift    0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       0
184 End-to-End_Error        0x0033   100   100   050    Pre-fail  Always       -       0
187 Reported_Uncorrect      0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       2
188 Command_Timeout         0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       0
189 Factory_Bad_Block_Ct    0x000e   100   100   001    Old_age   Always       -       58
194 Temperature_Celsius     0x0022   100   100   000    Old_age   Always       -       0
195 Hardware_ECC_Recovered  0x003a   100   100   001    Old_age   Always       -       0
196 Reallocated_Event_Count 0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       0
197 Current_Pending_Sector  0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       0
198 Offline_Uncorrectable   0x0030   100   100   001    Old_age   Offline      -       0
199 UDMA_CRC_Error_Count    0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       1
202 Perc_Rated_Life_Used    0x0018   080   080   001    Old_age   Offline      -       20
206 Write_Error_Rate        0x000e   100   100   001    Old_age   Always       -       10

Это полный -a результат после попытки long теста сегодня, что не удалось (см протокола теста):

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED

General SMART Values:
Offline data collection status:  (0x80) Offline data collection activity
                    was never started.
                    Auto Offline Data Collection: Enabled.
Self-test execution status:      ( 117) The previous self-test completed having
                    the read element of the test failed.
Total time to complete Offline 
data collection:        (  295) seconds.
Offline data collection
capabilities:            (0x7b) SMART execute Offline immediate.
                    Auto Offline data collection on/off support.
                    Suspend Offline collection upon new
                    command.
                    Offline surface scan supported.
                    Self-test supported.
                    Conveyance Self-test supported.
                    Selective Self-test supported.
SMART capabilities:            (0x0003) Saves SMART data before entering
                    power-saving mode.
                    Supports SMART auto save timer.
Error logging capability:        (0x01) Error logging supported.
                    General Purpose Logging supported.
Short self-test routine 
recommended polling time:    (   2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time:    (   4) minutes.
Conveyance self-test routine
recommended polling time:    (   3) minutes.
SCT capabilities:          (0x003d) SCT Status supported.
                    SCT Error Recovery Control supported.
                    SCT Feature Control supported.
                    SCT Data Table supported.

SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
  1 Raw_Read_Error_Rate     0x002f   100   100   050    Pre-fail  Always       -       0
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0033   100   100   010    Pre-fail  Always       -       0
  9 Power_On_Hours          0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       23891
 12 Power_Cycle_Count       0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       1063
170 Grown_Failing_Block_Ct  0x0033   100   100   010    Pre-fail  Always       -       0
171 Program_Fail_Count      0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       10
172 Erase_Fail_Count        0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       0
173 Wear_Leveling_Count     0x0033   080   080   010    Pre-fail  Always       -       611
174 Unexpect_Power_Loss_Ct  0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       244
181 Non4k_Aligned_Access    0x0022   100   100   001    Old_age   Always       -       302 89 212
183 SATA_Iface_Downshift    0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       0
184 End-to-End_Error        0x0033   100   100   050    Pre-fail  Always       -       0
187 Reported_Uncorrect      0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       2
188 Command_Timeout         0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       0
189 Factory_Bad_Block_Ct    0x000e   100   100   001    Old_age   Always       -       58
194 Temperature_Celsius     0x0022   100   100   000    Old_age   Always       -       0
195 Hardware_ECC_Recovered  0x003a   100   100   001    Old_age   Always       -       0
196 Reallocated_Event_Count 0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       0
197 Current_Pending_Sector  0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       0
198 Offline_Uncorrectable   0x0030   100   100   001    Old_age   Offline      -       0
199 UDMA_CRC_Error_Count    0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       1
202 Perc_Rated_Life_Used    0x0018   080   080   001    Old_age   Offline      -       20
206 Write_Error_Rate        0x000e   100   100   001    Old_age   Always       -       10

SMART Error Log Version: 1
Warning: ATA error count 0 inconsistent with error log pointer 2

ATA Error Count: 0
    CR = Command Register [HEX]
    FR = Features Register [HEX]
    SC = Sector Count Register [HEX]
    SN = Sector Number Register [HEX]
    CL = Cylinder Low Register [HEX]
    CH = Cylinder High Register [HEX]
    DH = Device/Head Register [HEX]
    DC = Device Command Register [HEX]
    ER = Error register [HEX]
    ST = Status register [HEX]
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.

Error 0 occurred at disk power-on lifetime: 23890 hours (995 days + 10 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER ST SC SN CL CH DH
  -- -- -- -- -- -- --
  00 50 00 d0 14 d1 40   at LBA = 0x00d114d0 = 13702352

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FR SC SN CL CH DH DC   Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- -- -- -- -- -- -- --  ----------------  --------------------
  60 00 08 d0 14 d1 40 00   1d+05:22:14.080  READ FPDMA QUEUED
  60 00 08 c8 14 d1 40 00   1d+05:22:14.080  READ FPDMA QUEUED
  60 03 08 c0 14 d1 40 00   1d+05:22:14.080  READ FPDMA QUEUED
  60 10 08 b8 14 d1 40 00   1d+05:22:14.080  READ FPDMA QUEUED
  60 00 08 b0 14 d1 40 00   1d+05:22:14.080  READ FPDMA QUEUED

Error -1 occurred at disk power-on lifetime: 23890 hours (995 days + 10 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER ST SC SN CL CH DH
  -- -- -- -- -- -- --
  00 50 00 d0 14 d1 40   at LBA = 0x00d114d0 = 13702352

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FR SC SN CL CH DH DC   Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- -- -- -- -- -- -- --  ----------------  --------------------
  60 d5 00 d8 13 d1 40 00   1d+05:22:14.080  READ FPDMA QUEUED
  60 00 00 d8 12 d1 40 00   1d+05:22:14.080  READ FPDMA QUEUED
  60 da 00 d8 11 d1 40 00   1d+05:22:14.080  READ FPDMA QUEUED
  60 d0 00 d8 10 d1 40 00   1d+05:22:14.080  READ FPDMA QUEUED
  60 d1 80 58 10 d1 40 00   1d+05:22:14.080  READ FPDMA QUEUED

SMART Self-test log structure revision number 1
Num  Test_Description    Status                  Remaining  LifeTime(hours)  LBA_of_first_error
# 1  Extended offline    Completed: read failure       50%     23891         66387896
# 2  Extended offline    Completed: read failure       50%     23889         66387896
# 3  Extended offline    Completed without error       00%     23437         -
# 4  Short offline       Completed without error       00%       564         -
# 5  Vendor (0xff)       Completed without error       00%       558         -

SMART Selective self-test log data structure revision number 1
 SPAN  MIN_LBA  MAX_LBA  CURRENT_TEST_STATUS
    1        0        0  Not_testing
    2        0        0  Not_testing
    3        0        0  Not_testing
    4        0        0  Not_testing
    5        0        0  Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
  After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.

Это полный -a результат после попытки short теста сегодня, пришедшей на смену:

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED

General SMART Values:
Offline data collection status:  (0x80) Offline data collection activity
                    was never started.
                    Auto Offline Data Collection: Enabled.
Self-test execution status:      (   0) The previous self-test routine completed
                    without error or no self-test has ever 
                    been run.
Total time to complete Offline 
data collection:        (  295) seconds.
Offline data collection
capabilities:            (0x7b) SMART execute Offline immediate.
                    Auto Offline data collection on/off support.
                    Suspend Offline collection upon new
                    command.
                    Offline surface scan supported.
                    Self-test supported.
                    Conveyance Self-test supported.
                    Selective Self-test supported.
SMART capabilities:            (0x0003) Saves SMART data before entering
                    power-saving mode.
                    Supports SMART auto save timer.
Error logging capability:        (0x01) Error logging supported.
                    General Purpose Logging supported.
Short self-test routine 
recommended polling time:    (   2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time:    (   4) minutes.
Conveyance self-test routine
recommended polling time:    (   3) minutes.
SCT capabilities:          (0x003d) SCT Status supported.
                    SCT Error Recovery Control supported.
                    SCT Feature Control supported.
                    SCT Data Table supported.

SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
  1 Raw_Read_Error_Rate     0x002f   100   100   050    Pre-fail  Always       -       0
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0033   100   100   010    Pre-fail  Always       -       0
  9 Power_On_Hours          0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       23891
 12 Power_Cycle_Count       0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       1063
170 Grown_Failing_Block_Ct  0x0033   100   100   010    Pre-fail  Always       -       0
171 Program_Fail_Count      0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       10
172 Erase_Fail_Count        0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       0
173 Wear_Leveling_Count     0x0033   080   080   010    Pre-fail  Always       -       611
174 Unexpect_Power_Loss_Ct  0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       244
181 Non4k_Aligned_Access    0x0022   100   100   001    Old_age   Always       -       302 89 212
183 SATA_Iface_Downshift    0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       0
184 End-to-End_Error        0x0033   100   100   050    Pre-fail  Always       -       0
187 Reported_Uncorrect      0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       2
188 Command_Timeout         0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       0
189 Factory_Bad_Block_Ct    0x000e   100   100   001    Old_age   Always       -       58
194 Temperature_Celsius     0x0022   100   100   000    Old_age   Always       -       0
195 Hardware_ECC_Recovered  0x003a   100   100   001    Old_age   Always       -       0
196 Reallocated_Event_Count 0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       0
197 Current_Pending_Sector  0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       0
198 Offline_Uncorrectable   0x0030   100   100   001    Old_age   Offline      -       0
199 UDMA_CRC_Error_Count    0x0032   100   100   001    Old_age   Always       -       1
202 Perc_Rated_Life_Used    0x0018   080   080   001    Old_age   Offline      -       20
206 Write_Error_Rate        0x000e   100   100   001    Old_age   Always       -       10

SMART Error Log Version: 1
Warning: ATA error count 0 inconsistent with error log pointer 2

ATA Error Count: 0
    CR = Command Register [HEX]
    FR = Features Register [HEX]
    SC = Sector Count Register [HEX]
    SN = Sector Number Register [HEX]
    CL = Cylinder Low Register [HEX]
    CH = Cylinder High Register [HEX]
    DH = Device/Head Register [HEX]
    DC = Device Command Register [HEX]
    ER = Error register [HEX]
    ST = Status register [HEX]
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.

Error 0 occurred at disk power-on lifetime: 23890 hours (995 days + 10 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER ST SC SN CL CH DH
  -- -- -- -- -- -- --
  00 50 00 d0 14 d1 40   at LBA = 0x00d114d0 = 13702352

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FR SC SN CL CH DH DC   Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- -- -- -- -- -- -- --  ----------------  --------------------
  60 00 08 d0 14 d1 40 00   1d+05:22:14.080  READ FPDMA QUEUED
  60 00 08 c8 14 d1 40 00   1d+05:22:14.080  READ FPDMA QUEUED
  60 03 08 c0 14 d1 40 00   1d+05:22:14.080  READ FPDMA QUEUED
  60 10 08 b8 14 d1 40 00   1d+05:22:14.080  READ FPDMA QUEUED
  60 00 08 b0 14 d1 40 00   1d+05:22:14.080  READ FPDMA QUEUED

Error -1 occurred at disk power-on lifetime: 23890 hours (995 days + 10 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER ST SC SN CL CH DH
  -- -- -- -- -- -- --
  00 50 00 d0 14 d1 40   at LBA = 0x00d114d0 = 13702352

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FR SC SN CL CH DH DC   Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- -- -- -- -- -- -- --  ----------------  --------------------
  60 d5 00 d8 13 d1 40 00   1d+05:22:14.080  READ FPDMA QUEUED
  60 00 00 d8 12 d1 40 00   1d+05:22:14.080  READ FPDMA QUEUED
  60 da 00 d8 11 d1 40 00   1d+05:22:14.080  READ FPDMA QUEUED
  60 d0 00 d8 10 d1 40 00   1d+05:22:14.080  READ FPDMA QUEUED
  60 d1 80 58 10 d1 40 00   1d+05:22:14.080  READ FPDMA QUEUED

SMART Self-test log structure revision number 1
Num  Test_Description    Status                  Remaining  LifeTime(hours)  LBA_of_first_error
# 1  Short offline       Completed without error       00%     23891         -
# 2  Extended offline    Completed: read failure       50%     23891         66387896
# 3  Extended offline    Completed: read failure       50%     23889         66387896
# 4  Extended offline    Completed without error       00%     23437         -
# 5  Short offline       Completed without error       00%       564         -
# 6  Vendor (0xff)       Completed without error       00%       558         -

SMART Selective self-test log data structure revision number 1
 SPAN  MIN_LBA  MAX_LBA  CURRENT_TEST_STATUS
    1        0        0  Not_testing
    2        0        0  Not_testing
    3        0        0  Not_testing
    4        0        0  Not_testing
    5        0        0  Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
  After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.

Мне очень смешно, что все три таблицы атрибутов одинаковы. Или я что-то здесь упускаю? Я не эксперт по SMART, но, насколько мне известно, это все три идеальных результата. (?) Я еще не пробовал, но так как монтирование и получение файлов работало, и BIOS сообщает, что все в ok снова, я предполагаю, что смогу загрузиться снова. Должен ли я хотя?

Вопрос 2: Почему это произошло?

Это просто стареющая вещь или это вызвано моим постоянным использованием смелости на SSD?

Это как-то связано с тем, что SSD постоянно занимает 90-100% используемого пространства?

Как все может получиться, если я не смогу провести тест SMART в течение двух недель?

Что говорят эти умные результаты теста? Таблица атрибутов после сегодняшнего теста мне все еще выглядит великолепно, или я ошибаюсь?

Вопрос 3: это заразно?

Если бы этот SSD был сломан, и я должен был купить новый, я мог бы просто dd if=/old/ssd of=/new/ssd и быть в порядке, или это вызовет проблемы? Каков наилучший подход для перехода на новый диск? Обратите внимание, что я использую LUKS на всем устройстве в режиме RAW с отдельным заголовком, и я хотел бы просто "клонировать" все это на новый диск.

Редактировать: я просто загрузился в этот SSD снова, и, кажется, работает. Я получу новый SSD как можно скорее, так как я предполагаю, что использование этого - плохая идея. Ниже приведены последние записи в syslos перед сбоем:

score 3 · Accepted Answer · 2011-03-09T19:38:42

Статус SMART показывает много старых или умирающих индикаторов, но ничего особенно не кричит "это убило его!"».

Ваш журнал показывает, что срок службы устройства составляет 995 дней и 10 часов, что говорит о том, что вы оставляете свою машину постоянно, что само по себе неплохо, это просто означает, что накопитель видел много часов небольших операций записи в процессе работы. Система ведет бухгалтерский учет и общего пользования.

Мне кажется, что SSD просто старый и изношенный. Perc_Rated_Life_Used на удивление низко, как и Erase_Fail_Count

Меня беспокоит то, что ваш "регулярный" удар на 95%+ заполнен, что уменьшит пул пустых блоков, доступных для алгоритма выравнивания износа, чтобы выполнить свою работу. В результате, когда вам не хватит места, вы эффективно нагрузите небольшое количество блоков сильнее, что приведет к небольшому кластеру блоков с огромным уровнем записи, тогда как среднее значение по диску довольно низкое. Делая это многократно, выровнитель износа, вероятно, выберет "лучшие" (наименее написанные) блоки для записи в первую очередь, но когда вы наполнитесь на 100%, у вас останутся "худшие" блоки. В сочетании с общими программами и операционной системой, выполняющей свои задачи, вы будете изнашивать худшие блоки намного быстрее. Это идеальный способ подчеркнуть худшие части диска и отправить его в могилу.

Вы эффективно вынуждаете ключевые файловые системы и функции учета SSD в худшие ячейки, поскольку они, вероятно, будут регулярно записываться на диск, особенно когда SSD в основном заполнен, и рано или поздно произойдет что-то плохое. Если у вас закончились перераспределяемые блоки и ключевая структура не может быть перемещена, то накопитель может заблокироваться сам.

Вот почему люди говорят , что вы всегда должны стараться , чтобы сохранить некоторое отрывочное количество свободного пространства на диске, потому что меньше места у вас есть свободные чем больше вы работаете в области , которая является бесплатной.

Возможно, что старость и тяжелые записи в небольшие группы блоков изношены части диска.

Скорее всего, копирование того, что вам нужно, на новый диск будет нормальным, сбои оборудования, подобные этому, не будут заразными.

Сейчас выбран русский

Как тост мой SSD и почему?

Что случилось

Следующие действия, которые я выполнил

Вопрос 1: Как тост мой SSD?

Вопрос 2: Почему это произошло?

Вопрос 3: это заразно?

1 ответ1

Всё ещё ищете ответ? Посмотрите другие вопросы с метками linux hard-drive boot ssd hardware-failure.

Связанные

Как тост мой SSD и почему?

Что случилось

Следующие действия, которые я выполнил

Вопрос 1: Как тост мой SSD?

Вопрос 2: Почему это произошло?

Вопрос 3: это заразно?

1 ответ1

Всё ещё ищете ответ? Посмотрите другие вопросы с метками linux hard-drive boot ssd hardware-failure.

Связанные

Похожие